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场发射透射电镜(TEM)
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       项目简介

       透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。

       常见项目

       场发射透射电镜(TEM)、场发射透射电镜--现场测试/远程视频
       
       结果展示

       普通形貌

       

       高分辨形貌

       

       选取电子衍射SAED

       


       常见问题

       1. TEM制样方法分类?

       粉末样品:直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察;或进行树脂包埋,超薄切片后,转移铜网上进行制样;

       复型技术:常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜,对样品没有损坏;

       化学减薄/双喷减薄:对于大部分金属样品,可以进行化学减薄或双喷减薄;

       离子减薄:对于陶瓷或金属合金合物,无法电解腐蚀,只能用离子减薄;

       聚焦离子束FIB:与电解双喷和离子减薄相比,可通过SEM在线观察下进行定点制样,获得更高质量的TEM样品;

       2. TEM制样时载网的分类,如何选择?

       载网由金属网、支持膜和导电膜组成。

       金属裸网材质有铜、镍、钼、金、铝等;铜网较为常见,如果能谱分析铜元素时,则应该选择其他材质载网;

       支持膜包括:

       (1)方华膜(聚乙烯醇缩甲醛):纯有机膜,导电性差,电子束下不耐高温或发生电荷积累而产生样品漂移,多用于低电压电镜或生物样品;

       (2)碳支持膜:方华膜和碳膜组成,最为常用,碳膜的存在增加了导热和导电性,但由于碳颗粒本身的衬度问题,在观察样品高分辨形貌时则不合适;

       (3)微栅膜:在碳支持膜上制作些微孔,解决了高分辨观察样品时的背底衬度问题;

       (4)超薄碳膜:使用微栅膜时,棒状或片材可搭载在孔边缘,但纳米级颗粒由于尺寸小于微栅孔,无法搭载,但是碳支持膜衬度又差,在微栅膜上再增加一层超薄碳膜,可使纳米颗粒负载在超薄碳膜上的同时也提高了图像衬度;

       (5)纯碳膜:部分分散剂(氯仿等)会溶解方华膜,则可去除方华膜,即为纯碳膜;

       3. 磁性样品都有什么?

       (1)含铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、钆(Gd)等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等;

       (2)钕铁硼(NdFeB)/钐钴(SmCo)等稀土永磁材料;

       (3)钐(Sm)、镨(Pr)、钕(Nd)、镝(Dy)、铽(Tb)等稀土元素的磁性助剂。

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