项目简介
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。一般是半定量测试,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,可作为一种快速的无损分析。
可测元素范围:常规测试范围9F-92U,部分仪器可以测到O元素,如果需要测到O需要备注好,但是O的结果不准。
制样方法:压片、融片
结果模式:单质、氧化物
结果展示
常见问题
1. 仪器的检测限多少?元素含量低于多少结果会不可靠?
理论上仪器的检测限为ppm—100%,但实际上 当元素含量低于1%时测量会存在误差,结果只能做为参考;
2. XRF对样品有什么要求,片状样品可以测试吗?
XRF样品最好磨成粉末,且样品量确保在3g以上,因为需要和淀粉压片后测试,如果样品量太少,会导致结果不准确;
片状样品要求表面平整光洁无污染,直径34-38 mm,厚度为3-5 mm的圆柱;只能定性+半定量,如需准确定量最好是粉末,且颗粒大的必须磨成粉。