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X射线多晶衍射(XRD)
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       项目简介

       当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

       
常见项目

       铜靶-X射线多晶衍射(XRD)

       钴靶-X射线多晶衍射(钴靶XRD):XRD的光源来自于靶材的特征X射线,对于含有较多Fe,Ni,Mn,Cr元素的样品,为避免Cu靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,使图样清晰。建议使用Co靶测试。

       变温X射线多晶衍射(变温XRD):材料在升降温过程中有可能发生多种转化,物相转变是其中之一。通过变温原位XRD可以实时检测材料在温度范围内的相变。在高温区间由于原子热振动加剧,XRD数据可能会出现质量较差的情况。

       掠入射XRD(GIXRD):常规XRD采用的是X射线直射样品,由于X射线的穿深较大,对有基底的薄膜样品,薄膜的峰经常被基底的峰掩盖。掠入射采用与样品近似平行的入射角度,使X射线仅照射在样品表面,着重关注薄膜样品的信号,规避基底信号。

       微区XRD:常规XRD扫描范围较大,微区可以仅关注样品中的某个局部。关注区域直径一般在200微米-1毫米。

       高分辨XRD:HRXRD是一种基于XRD的一种新型测试模式,广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。

       XRD摇摆曲线:摇摆曲线测试也叫做w扫描,是一种测试某个晶面在样品中角发散大小的测试方法。

       二维广角X射线衍射(2D-WAXRD):X射线在平面内发生散射,由检测器记录二维数据,一般用于研究材料的取向。可通过2D-XRD复现常规XRD的结果,也可以通过方位角曲线计算材料的取向度。


       结果展示

       

       常见问题

       1. 样品峰信号不好,测试时候有没有什么改善方法呢?       
       建议只扫出峰位置,这样强度和峰形会较好一些;


       2. XRD测试薄膜样品,对膜厚有什么要求呢?
       XRD常规模式要求膜厚必须均匀,有些薄膜不均匀,两边厚中间薄是会影响峰强度的;

       3. XRD定量的准确度如何呢?
       XRD只能做半定量分析,定量结果只能参考,准确度不高;

       4. XRD掠入射角度的选择?
       掠射角度建议越小越好,一般都是0-1°最好,例如0.5°,不建议2°或3°,这种基本不叫掠射,基底的信号也会比较明显;

       5. 有荧光散射的样品测XRD,数据会受影响?是否可以改善?
       有荧光散射现象的样品,比如铁,铜靶测试铁含量较高的样品时,测试结果基线会比较高,这种情况是无法改善的。

       6. 高温XRD样品对块体样品厚度有要求吗?
       对于高温XRD,块体厚度尽量控制在2mm以内,应尽量薄,否则上下表面会有较大温差,引起测试结果不准确;

       7. 高温XRD如何选取温度点?
       一般会结合TG-DSC的数据,凡是吸热放热的温度点,一般都定为XRD测试温度点;

       8. 高温XRD随着温度升高,峰位为什么会出现左移现象?
       随温度升高使衍射峰左移,这是因为一般材料都是正膨胀系数材料,即随温度升高而膨胀。根据布拉格公式2dsinθ= nλ,在波长不变的情况下,d值增大,必然使sinθ 变小,而在衍射范围内,也就是θ变小,即峰位左移;


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