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项目简介
在半导体化学、电子湿化学等领域的测试需求中,对物质基础特性的监控逐步加强。海怀检测拥有多台先进设备,具备痕量金属测试、痕量离子浓度测试等多项测试能力,深受广大用户好评。
检测范围
对半导体生产中的化学品进行金属含量和离子浓度测试,如UPW、HF、HCL、HNO3、H2SO4、H3PO4、NH4OH、Wafer表面、wafer本体、BOE、SC1、SC2、DEV、H2O2、IPA、NMP等进行痕量分析(ppt level)。
常用检测方法
电感耦合等离子体光谱/质谱 (ICP-AES/MS)、光电直读光谱、无机碳硫测试、无机氧氮氢测试、离子色谱 (IC)、总有机碳 (TOC)、化学湿法、X射线荧光光谱 (XRF)、原子吸收光谱 (AAS)、水分测试、辉光放电光谱/质谱 (GD-OES/MS)、有机元素分析测试(EA)、原子荧光光谱 (AFS)等。
设备照片
电感耦合等离子体光谱/质谱 (ICP-AES/MS) |
离子色谱(IC) | 无机氧氮氢测试仪 | X射线荧光光谱(XRF) |
仪器设备
借助2000+大型仪器设备和丰富的处理方案,针对各行业研发分析中的难题,提供技术支撑和指导。
技术团队
由20多名博士、100余名硕士组成的技术过硬、经验丰富的技术团队,具备科研检测的核心竞争力。
定制化服务
根据客户需求和行业通用标准,定制化测试方案,全程跟踪测试情况。
能力全面
在华东、华中、华北、西北地区分别建有大型综合检测基地,具有行业顶尖的检验检测分析实验室。